测量系统变差来自于:
测量设备,检测人员,被测产品,检验规程,检测环境
确定几个特性来分析测量仪器的线性,先用更精密仪器找到参考值
2.一个测量员,每个特性测10次以上.
3.偏倚B=X-参考值
数据的质量:取决于从处于稳定条件下进行操作的测
量系统中,多次测量的统计特性
从统计质量管理的角度来看,测量系统分析实质上属于变异分析的范畴,即分析测量系统所带来的变异相对于工序过程总变异的大小,以确保工序过程的主要变异源于工序过程本身,而非测量系统,并且测量系统能力可以满足工序要求。测量系统分析,针对的是整个测量系统的稳定性和准确性,它需要分析测量系统的位置变差、宽度变差。在位置变差中包括测量系统的偏倚、稳定性和线性。在宽度变差中包括测量系统的重复性、再现性。
好的测量系统四个特点
足够分辨力和敏感度
测量系统受控
测量系统变差小于规格差
测量系统变差能具有有效分辨力,小于制造过程变差
测量系统的误差由稳定条件下运行的测量系统多次测量数据的统计特性:偏倚和方差来表征。偏倚指测量数据相对于标准值的位置,包括测量系统的偏倚(Bias)、线性(Linearity)和稳定性(Stability);而方差指测量数据的分散程度,也称为测量系统的R&R,包括测量系统的重复性(Repeatability)和再现性(Reproducibility)。
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